菲希爾XDL 系列測(cè)厚儀信息

德國(guó)菲希爾 X 射線測(cè)厚儀 XDL 系列，是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。該系列儀器專為滿足多樣化的工業(yè)需求而設(shè)計(jì)，在質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控等方面發(fā)揮著重要作用。

XDL 系列采用基本參數(shù)法，這一先進(jìn)技術(shù)使得儀器無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)，還是對(duì)固體和液體樣品，均可在無標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量和分析，測(cè)量范圍覆蓋元素氯（17）到鈾（92）。

該系列根據(jù)不同的預(yù)期用途，提供多種版本。XDL 210 型配備固定式工作臺(tái)與固定位置的 Z 軸系統(tǒng)；XDL 220 型的工作臺(tái)同樣固定，但采用馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)；XDL 230 型設(shè)有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺(tái)，搭配馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)；XDL 240 型則具備馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺(tái)，且當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移至樣品放置位置，其 Z 軸升降系統(tǒng)還可編程。