FISCHER XDL237 X射線熒光測(cè)厚儀信息

德國(guó)菲希爾（FISCHER）XDL237 X射線熒光測(cè)厚儀是一款高精度、非破壞性的鍍層厚度測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、五金、電鍍及金屬加工等行業(yè)。該儀器采用先進(jìn)的X射線熒光（XRF）技術(shù)，可快速、準(zhǔn)確地測(cè)量單層或多層金屬鍍層的厚度，如金、銀、錫、鎳、鉻、鋅、銅等，適用于各種基材，包括鐵、銅、鋁、塑料等。

XDL237配備高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD），具有優(yōu)異的能量分辨率和測(cè)量靈敏度，即使對(duì)極薄鍍層（可達(dá)納米級(jí)）也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定可靠的檢測(cè)。其操作界面簡(jiǎn)潔直觀，支持多語(yǔ)言顯示，用戶可通過(guò)觸摸屏輕松完成參數(shù)設(shè)置與數(shù)據(jù)分析。儀器內(nèi)置多種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量程序，并支持自定義測(cè)量曲線，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的個(gè)性化需求。

此外，XDL237符合多項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如ISO 3497、ASTM B568等），具備良好的重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性，確保測(cè)量結(jié)果可追溯性。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用，適合實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線現(xiàn)場(chǎng)使用。配合菲希爾專業(yè)的測(cè)量軟件，還可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)分析與報(bào)告生成，極大提升工作效率。

作為菲希爾XDL系列中的高性能型號(hào)，XDL237憑借其精準(zhǔn)、高效與易用性，成為鍍層質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化的理想選擇。