菲希爾金屬鍍層測(cè)厚儀XAN215信息

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO定位：經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式 EDXRF，面向珠寶、貴金屬、錢幣、簡(jiǎn)單鍍層的無損檢測(cè)。

原理：能量色散 X 射線熒光（EDXRF）+ 菲希爾基本參數(shù)法（FP），無需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析固 / 液樣品與多層鍍層。

合規(guī)：符合 DIN ISO 3497、ASTM B568。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森核心優(yōu)勢(shì)

高性價(jià)比入門：兼顧精度與成本，適合貴金屬與簡(jiǎn)單鍍層場(chǎng)景。

FP 法免標(biāo)樣：無需標(biāo)準(zhǔn)片即可定量，降低使用門檻。

快速無損：15 秒出結(jié)果，不損傷樣品。

穩(wěn)定可靠：長(zhǎng)期穩(wěn)定性好，減少校準(zhǔn)頻率。

操作友好：可視化定位、一鍵測(cè)量、多語(yǔ)言軟件。

典型應(yīng)用

貴金屬成分分析：金、銀、鉑、鈀、K 金、白金、牙科合金。

鍍層厚度測(cè)量：?jiǎn)?/ 多層電鍍（如鍍金、鍍銠、鍍銀）。

珠寶、錢幣、首飾、貴金屬回收與質(zhì)量控制。