Fischer|X射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY特性：

• X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務

• Fischerscope X-ray菲希爾X射線測厚儀由于測量距離可以調(diào)節(jié)（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

• Fischerscope X-ray菲希爾X射線測厚儀通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理應用：鍍層厚度測量

• 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

• 電路板上較薄的導電層和/或隔離層

• 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

• 鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

• 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

• 材料分析

• 電鍍槽液分析

• 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。Fischerscope X-RAY XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)，篤摯儀器正規(guī)代理。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。